簡易檢索 / 檢索結果

  • 檢索結果：共2筆資料 檢索策略： "Shao-Yun Fang".ecommittee (精準) and ckeyword.raw="內建自我修復"


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    使用部分時間冗餘技術提升嵌入式記憶體之可靠度和良率
    • 電機工程系 /105/ 碩士
    • 研究生： 鄭筠騰   指導教授： 呂學坤
    • 近年來，錯誤修正碼 (ECC) 技術與內建自我修復 (BISR) 技術皆被廣泛地使用來提升記憶體的良率與可靠度。錯誤修正碼技術以及內建自我修復技術主要分別用來處理軟錯誤與硬錯誤。而在過去有許…
    • 點閱：273  下載：8 

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    使用整合性漸進式內建自我修復技術以提升快閃記憶體的良率與可靠度
    • 電機工程系 /110/ 碩士
    • 研究生： 董昕   指導教授： 呂學坤
    • 快閃記憶體具有可擴充、低功耗、高效能等優點，使其廣泛地存在於消費性電子產品中；隨著製程演進，不斷增加的資料密度使儲存資料的雜訊容忍範圍縮小，導致快閃記憶體的良率與可靠度下降。因此，我們需要探討更加高…
    • 點閱：300  下載：0 
    • 全文公開日期 2025/07/19 (校內網路)
    • 全文公開日期 2025/07/19 (校外網路)
    • 全文公開日期 2025/07/19 (國家圖書館：臺灣博碩士論文系統)
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